Способ определения ориентировки зерен поликристалла
Номер предварительного патента: 10014
Опубликовано: 15.03.2001
Авторы: Листунов Владимир Владимирович, Тастембеков Толемис Абылкакович, Назаров Юрий Константинович
Формула / Реферат
Изобретение относится к области кристаллографии и электронной микроскопии. Рассматривается способ определения ориентировки зерен поликристалла с помощью электронного микроскопа, включающий подготовку образца в виде диска, утонение его путем механического шлифования, двустороннего электролитического полирования до образования отверстия в нем, фотосъемку дифракционной картины в электронном микроскопе и определение по ней ориентировки зерна с уточнением ее по темнопольному изображению.
При этом, достигая уменьшения трудозатрат и сокращения времени определения ориентировки зерна, образец подвергают радиально-растягивающему напряжению путем вырубки из него диска с помощью пуансон-матрицы, механическому шлифованию, двустороннему электролитическому струйному полированию, до образования отверстия в центре диска, производят фотосъемку светлопольного изображения релаксационных фигур, по которым определяют ориентировку зерен.
МПК / Метки
МПК: H05H 7/00, H01J 37/295
Метки: определения, способ, зерен, поликристалла, ориентировки
Код ссылки
<a href="https://kz.patents.su/0-pp10014-sposob-opredeleniya-orientirovki-zeren-polikristalla.html" rel="bookmark" title="База патентов Казахстана">Способ определения ориентировки зерен поликристалла</a>
Предыдущий патент: Способ сушки сыпучих и зернистых материалов
Следующий патент: Фармацевтическая композиция замедленного высвобождения и способ ее получения (варианты)
Случайный патент: Стимулятор роста микробактерий туберкулеза животных