Способ определения ориентировки зерен поликристалла

Формула / Реферат

Изобретение относится к области кристаллографии и электронной микроскопии. Рассматривается способ определения ориентировки зерен поликристалла с помощью электронного микроскопа, включающий подготовку образца в виде диска, утонение его путем механического шлифования, двустороннего электролитического полирования до образования отверстия в нем, фотосъемку дифракционной картины в электронном микроскопе и определение по ней ориентировки зерна с уточнением ее по темнопольному изображению.
При этом, достигая уменьшения трудозатрат и сокращения времени определения ориентировки зерна, образец подвергают радиально-растягиваю­щему напряжению путем вырубки из него диска с помощью пуансон-матрицы, механическому шлифованию, двустороннему электролитическому струйному полированию, до образования отверстия в центре диска, производят фотосъемку светлопольного изображения релаксационных фигур, по которым определяют ориентировку зерен.

МПК / Метки

МПК: H05H 7/00, H01J 37/295

Метки: определения, способ, зерен, поликристалла, ориентировки

Код ссылки

<a href="https://kz.patents.su/0-pp10014-sposob-opredeleniya-orientirovki-zeren-polikristalla.html" rel="bookmark" title="База патентов Казахстана">Способ определения ориентировки зерен поликристалла</a>

Похожие патенты