H01L 21/66 — испытания или измерения в процессе изготовления или обработки

Номер полезной модели: 1319

Опубликовано: 17.08.2015

Авторы: Никитин Виктор Алексеевич, Сатаев Марат Исакович, Исмаилов Серик Умирбаевич, Хрипунов Геннадий Семенович, Саипов Абдилла Абибуллаевич, Сокол Евгений Иванович, Хусанов Алишер Евадиллоевич

МПК: H01L 21/66, G01R 31/26

Метки: концентратор, излучения, сегментный

Формула / Реферат:

Область применения относитсяк оптическим приборам, в частности к концентраторам солнечных фотоэнергетических установок, и инициирована необходимостью дальнейшего снижения их себестоимости при хранении их технических параметров.Сущность изобретения заключается в создании сегментного параболического концентратора излучения на основаниииз кругового массива профилированных ребер, задающих профиль изгиба светоотражающих сегментов...

Номер предварительного патента: 18654

Опубликовано: 16.07.2007

Авторы: Письменов Дмитрий Александрович, Скубилин Михаил Демьянович, Письменов Александр Владимирович, Скубилин Игорь Михайлович

МПК: G01J 5/58, H01L 21/66

Метки: пирометр

Формула / Реферат:

Изобретение относится к информационно-измерительной и вычислительной технике, а в частности к средствам бесконтактного измерения температуры поверхности нагретых тел, в т.ч. полупроводниковых пластин в технологических установках, изделий из металлов, керамики, пластмасс при их термообработке, расплавов металлов в металлургии.Пирометр содержит вход излучений нагретого тела, селективный датчик излучений нагретого тела, выполненный на приборах с...

Номер предварительного патента: 12122

Опубликовано: 15.10.2002

Авторы: Письменов Александр Владимирович, Скубилин Михаил Демьянович, Письменов Дмитрий Александрович, Скубилин Игорь Михайлович

МПК: H01L 21/66, G01J 5/58

Метки: пирометр

Формула / Реферат:

Изобретение относится к информационно-измерительной и вычислительной технике, а в частности к средствам бесконтактного измерения температуры нагретых тел, в т. ч. полупроводниковых пластин в технологических установках, изделий из металлов, керамики и пластмасс при их термообработке, расплавов металлов в металлургии и т. д.Пирометр включает вход из вещества прозрачного в диапазоне используемых длин волн теплового излучения, два фотоэлектрических...

Номер предварительного патента: 11750

Опубликовано: 15.07.2002

Авторы: Скубилин Михаил Демьянович, Авраменко Анатолий Васильевич, Письменов Александр Владимирович

МПК: H01L 21/66, G01J 5/58

Метки: бесконтактного, температуры, измерения, способ

Формула / Реферат:

Изобретение относится к бесконтактным методам измерения температуры по тепловому излучению и может быть использовано для определения температуры поверхности нагретых объектов, в частности, полупроводниковых пластин в технологических установках, сварных швов, гибов труб при их термообработке, расплавов веществ и т.д.В способе бесконтактного измерения температуры, включающем прием теплового излучения объекта, излучение регистрируют на...