Йоу-т ЧУ
Устройство для измерения параметров структурных элементов в образцах текстильного материала и способ измерения параметров структурных элементов в образцах текстильного материала
Номер патента: 7572
Опубликовано: 17.05.1999
Авторы: Джозеф К. БОЛДВИН, Гордон Ф. УИЛЬЯМС, Йоу-т ЧУ, Майкл Э. ГЭЛИОН, Фредерик М. ШОФНЕР, Бенджамин М. КЕЙСЕНАС
МПК: G01N 21/00
Метки: устройство, образцах, способ, измерения, структурных, текстильного, материала, параметров, элементов
Формула / Реферат:
Настоящее изобретение относится к области измерительной техники и, более конкретно, к устройству и способу для измерения параметров структурных элементов в образцах текстильного материала.Предложенный способ и устройство позволяют достичь более точные данные при большем быстродействии по сравнению с известными аналогичными техническими решениями в этой области.Способ предназначен для получения экспресс информации о содержащихся в испытуемых...