Бенджамин М. КЕЙСЕНАС
Устройство для измерения параметров структурных элементов в образцах текстильного материала и способ измерения параметров структурных элементов в образцах текстильного материала
Номер патента: 7572
Опубликовано: 17.05.1999
Авторы: Йоу-т ЧУ, Бенджамин М. КЕЙСЕНАС, Фредерик М. ШОФНЕР, Гордон Ф. УИЛЬЯМС, Майкл Э. ГЭЛИОН, Джозеф К. БОЛДВИН
МПК: G01N 21/00
Метки: структурных, устройство, текстильного, параметров, элементов, способ, материала, измерения, образцах
Формула / Реферат:
Настоящее изобретение относится к области измерительной техники и, более конкретно, к устройству и способу для измерения параметров структурных элементов в образцах текстильного материала.Предложенный способ и устройство позволяют достичь более точные данные при большем быстродействии по сравнению с известными аналогичными техническими решениями в этой области.Способ предназначен для получения экспресс информации о содержащихся в испытуемых...