Способ ядерно-физического анализа платиноидов в сыпучих материалах
Номер предварительного патента: 4063
Опубликовано: 16.12.1996
Формула / Реферат
Изобретение относится к области анализа состава сыпучих материалов облучением рентгеновскими лучами.
Техническим результатом является повышение точности, снижение предела обнаружения и повышение производительности анализа.
Это достигается тем, что в процессе анализа пробу помещают во вращающуюся кювету в виде усеченного конуса между внешней и внутренней стенками, внешняя стенка которой выполнена из прозрачного для рентгеновского излучения материала, имплантирована (напылена) ионами металла, характеристическое излучение которого избирательно возбуждает группу платиноидов, а интенсивность этого излучения является монитором числа рентгеновских квантов, упавших на пробу (образец).
МПК / Метки
МПК: G01N 23/223
Метки: ядерно-физического, способ, материалах, сыпучих, анализа, платиноидов
Код ссылки
<a href="https://kz.patents.su/0-pp4063-sposob-yaderno-fizicheskogo-analiza-platinoidov-v-sypuchih-materialah.html" rel="bookmark" title="База патентов Казахстана">Способ ядерно-физического анализа платиноидов в сыпучих материалах</a>
Предыдущий патент: Облегченный сборно-разборный радиатор для систем водяного отопления
Следующий патент: Способ определения коэффициента усиления поля на микровыступах поверхности катода вакуумного промежутка
Случайный патент: Способ обнаружения пищевой соды в молоке