Способ ядерно-физического анализа сыпучих материалов

Номер предварительного патента: 13937

Опубликовано: 15.01.2004

Авторы: Петров Валерий Александрович, Петрова Евгения Викторовна

Формула / Реферат

Изобретение относится к способам анализа вещества и может найти применение в горнорудной, горнодобывающей и перерабатывающей областях промышленности. Техническим результатом изобретения является применение способа исследования в тонком слое для сыпучих материалов и снижение предела обнаружения определяемых элементов в таких материалах. Это достигается за счет того, что облучение пробы исследуемого материала, находящейся на дискообразном дне вращающейся кюветы, и регистрацию вторичного характеристического рентгеновского излучения от всей поверхности пробы вдоль спирали Архимеда от центра к краю дна кюветы осуществляют снизу через дно, выполненное из слабопоглощающего рентгеновское излучение материала, при этом на дне кюветы размещают опорную сетку, имплантированную или целиком выполненную из материала, с помощью характеристического рентгеновского излучения которого дополнительно возбуждают группу определяемых элементов.

МПК / Метки

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, способ, сыпучих, ядерно-физического, материалов

Код ссылки

<a href="https://kz.patents.su/0-pp13937-sposob-yaderno-fizicheskogo-analiza-sypuchih-materialov.html" rel="bookmark" title="База патентов Казахстана">Способ ядерно-физического анализа сыпучих материалов</a>

Похожие патенты