Хаг Марк
Устройство для обнаружения поверхностных дефектов
Номер патента: 5617
Опубликовано: 15.04.1999
Авторы: Раис Томас Джерард, Хаг Марк, Дэвидсон Ян Самюэль
МПК: G21C 3/00
Метки: устройство, поверхностных, обнаружения, дефектов
Формула / Реферат:
Устройство для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, например, топливных таблетках атомных электростанций, которое включает средство для перемещения контролируемых объектов, стоящих на торце и один за другим к первой станции контроля качества; средство для проверки свободного конца каждого объекта при прохождении им первой станции контроля качества; средство для перемещения объектов, стоящих на боку и по одному, ко...