G11C 29/00 — Контроль правильности работы запоминающих устройств; испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы
Тестирование содержимого памяти
Номер предварительного патента: 7945
Опубликовано: 16.08.1999
Автор: КИЗ Эдвард Патрик
МПК: G11C 29/00
Метки: содержимого, памяти, тестирование
Формула / Реферат:
Способ тестирования памяти, объединенной с микропроцессором, применяемый, например, для использования в интеллектуальных платах.Достигаемый технический результат - повышение надежности защиты и работы устройства.Способ включает сравнение выходной информации из памяти 2, подаваемой по каналу чтения 10 с сигналами предварительно заданных данных, генерируемых извне и подаваемых через порт 7 по каналу чтения 9. Сравнение осуществляют устройством...