Способ измерения поверхностного натяжения твердых тел
Номер предварительного патента: 20444
Опубликовано: 15.12.2008
Авторы: Юров Виктор Михайлович, Ещанов Амангельды Нукенович, Кукетаев Аргын Темиргалиевич
Формула / Реферат
Изобретение относится к измерению поверхностного натяжения в твердых телах, а именно измерению поверхностного натяжения в диэлектриках, применяемых в различных областях науки и техники.
Заявленным способом предусматривается измерение поверхностного натяжения путем определения зависимости интенсивности рентгенолюминесценции от размера частиц диэлектрика. Реализация предлагаемого изобретения позволяет определять поверхностное натяжение диэлектриков для обеспечения заданных параметров качественного изготовления адсорбентов, изоляционных материалов, люминофоров для световой и телевизионной промышленности и ряда других.
МПК / Метки
МПК: G01N 13/02
Метки: способ, натяжения, поверхностного, твердых, тел, измерения
Код ссылки
<a href="https://kz.patents.su/0-pp20444-sposob-izmereniya-poverhnostnogo-natyazheniya-tverdyh-tel.html" rel="bookmark" title="База патентов Казахстана">Способ измерения поверхностного натяжения твердых тел</a>
Предыдущий патент: Способ изготовления огнеупорного тигля индукционной печи
Следующий патент: Смесь из гербицидов и антидотов и способ защиты культурных растений от фитотоксического побочного действия гербицидно-активного вещества
Случайный патент: Способ хроматографического разделения биологически активных веществ