Способ измерения поверхностного натяжения твердых тел

Номер предварительного патента: 20444

Опубликовано: 15.12.2008

Авторы: Юров Виктор Михайлович, Ещанов Амангельды Нукенович, Кукетаев Аргын Темиргалиевич

Формула / Реферат

Изобретение относится к измерению поверхностного натяжения в твердых телах, а именно измерению поверхностного натяжения в диэлектриках, применяемых в различных областях науки и техники.
Заявленным способом предусматривается измерение поверхностного натяжения путем определения зависимости интенсивности рентгенолюминесценции от размера частиц диэлектрика. Реализация предлагаемого изобретения позволяет определять поверхностное натяжение диэлектриков для обеспечения заданных параметров качественного изготовления адсорбентов, изоляционных материалов, люминофоров для световой и телевизионной промышленности и ряда других.

МПК / Метки

МПК: G01N 13/02

Метки: способ, натяжения, поверхностного, твердых, тел, измерения

Код ссылки

<a href="https://kz.patents.su/0-pp20444-sposob-izmereniya-poverhnostnogo-natyazheniya-tverdyh-tel.html" rel="bookmark" title="База патентов Казахстана">Способ измерения поверхностного натяжения твердых тел</a>

Похожие патенты