Способ определения уровня распространенности врожденных пороков развития среди плодов и новорожденных

Номер предварительного патента: 17829

Опубликовано: 16.10.2006

Автор: Актаева Лязат Мейрашевна

Формула / Реферат

Изобретение относится к медицине, а именно к медицинской генетике.
Способ определения уровня распространенности врожденных пороков развития включает фенотипическое исследование в первые 168 часов после рождения с определением частоты врожденных пороков развития, при этом дополнительно осуществляют фенотипическое исследование аномалий среди плодов при индуцированных и самопроизвольных абортах, выявляют среди них частоту врожденных пороков развития, после чего определяют достоверный уровень распространенности врожденных пороков.
Предложенный способ обладает высокой точностью, позволяет определить достоверный уровень распространенности врожденных пороков среди плодов и новорожденных.

МПК / Метки

МПК: A61B 10/00

Метки: определения, способ, развития, новорожденных, врожденных, плодов, распространенности, уровня, среди, пороков

Код ссылки

<a href="https://kz.patents.su/0-pp17829-sposob-opredeleniya-urovnya-rasprostranennosti-vrozhdennyh-porokov-razvitiya-sredi-plodov-i-novorozhdennyh.html" rel="bookmark" title="База патентов Казахстана">Способ определения уровня распространенности врожденных пороков развития среди плодов и новорожденных</a>

Похожие патенты