Способ диагностики степени тяжести повреждения слизистой оболочки мочевых путей у детей
Номер предварительного патента: 16345
Опубликовано: 14.10.2005
Авторы: Мажитова Зайра Хамитовна, Сарсенбаева Сауле Сергазиевна, Шибанова Азат Ильясовна, Аязбеков Ермек Абуевич
Формула / Реферат
Изобретение относится к медицине, а именно к
детской нефрологии.
В способе диагностики повреждений слизистой
оболочки мочевых путей у детей дополнительно к
клинико-лабораторным методам проводят цитологическое исследование клеток слизистой оболочки
мочевых путей и при выявлении в мазке от 51 до 60
% “голых” ядер, уплотнения ядерной оболочки, наличия увеличенных нуклеол до 1-2 в клетке, изменения хроматина диагностируется умеренная степень деструкции (дистрофии), а при обнаружении
«голых» ядер более 60 %, “незрелых” делящихся
клеток до 30-50 %, определении измененных нуклеол в количестве до 5, явлений метаплазии, диагностируется тяжелая степень деструктивных изменений (дистрофии).
Предложенный способ позволяет повысить точность диагностики, снизить травматичность и осуществлять диагностику на ранних стадиях.
МПК / Метки
МПК: G01N 33/48
Метки: мочевых, тяжести, оболочки, степени, путей, способ, повреждения, слизистой, детей, диагностики
Код ссылки
<a href="https://kz.patents.su/0-pp16345-sposob-diagnostiki-stepeni-tyazhesti-povrezhdeniya-slizistojj-obolochki-mochevyh-putejj-u-detejj.html" rel="bookmark" title="База патентов Казахстана">Способ диагностики степени тяжести повреждения слизистой оболочки мочевых путей у детей</a>
Предыдущий патент: Гидроциклонная насосная установка
Следующий патент: Бортовой комплекс для сбора данных о состоянии подвижных объектов
Случайный патент: Каскад гидроэлектростанций